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SP25M高精度掃描測頭原理

現(xiàn)在為您介紹的是SP25M掃描系統(tǒng)。您可能還有興趣了解如何將SP25M集成到REVO掃描測頭中…

直徑僅為25 mm，配備一系列掃描及觸發(fā)模塊，SP25M是世界上*小型的多用途掃描測頭系統(tǒng)。

掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量輪廓、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

掃描原理

掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。觸發(fā)式測頭可采集表面離散點，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計、機器控制和數(shù)據(jù)分析方法。

雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構(gòu)（無馬達或鎖定機構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統(tǒng)直接（無需通過測頭機構(gòu)中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。

SP25M由兩個傳感器組成，包含在一個外殼中。用戶可從五個掃描模塊（可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針）中選擇任意一個，與轉(zhuǎn)接模塊（與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容）進行切換。這一功能可實現(xiàn)在單個測頭系統(tǒng)中進行掃描和觸發(fā)測量。

SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時，這些組合具有的測觸能力，便于檢測各種零件特征。

SM25-1

與SH25-1配用

測針長度：20 mm至50 mm

SM25-2

與SH25-2配用

測針長度：50 mm至105 mm

SM25-3

與SH25-3配用

測針長度：120 mm至200 mm

SM25-4

與SH25-4配用

測針長度：220 mm至400 mm

SM25-5

與SH25-5配用，用于非直測針和星形測針組合

測針長度：20 mm至100 mm

TM25-20 TTP轉(zhuǎn)接模塊

與TP20觸發(fā)式模塊和加長桿配用