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非接觸式光學輪廓儀

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

應用：材料研究、醫(yī)療植入物、SIMS凹面、軸承粗糙度、密封面、晶圓粗糙度、拋光光學器件、曲軸加工、晶圓蝕刻深度、織紋鋼、儲油率(軸承)、太陽能電池、金剛石車削、紙/碳粉、汽車噴油器、手機耳機、表面結構、牙齒磨損

大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對極為粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產運營或研究項目時刻與研發(fā)人員和科學家的專業(yè)技術同步發(fā)展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學和醫(yī)療器械等領域提出的苛刻的測量要求。高級數據拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

使用的簡便性可減少操作員的培訓成本
即便不常使用，也無需對操作員重新進行培訓和指導。CCI    MP的設計便于科學家、學生、開發(fā)人員或生產檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調整過程。為用戶節(jié)省時間、減少錯誤并快速得出所需結果。

完整的平臺簡化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的復雜性就可使用戶的分析能力得到極大提高。也不需要測量模式間進行復雜的切換，以及測量過程中校準鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質量管理系統(tǒng)。

 

  ● 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
  ● RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
  ● 多語言版本的64位控制和分析軟件