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Micro-Tri-Gloss BYK4563三角度光澤儀介紹：

為了清楚地得到從啞光到高光的整個范圍內(nèi)的光澤度差值，標準規(guī)定了光澤儀的三個測量角度。每個角度在其對應(yīng)的光澤范圍內(nèi)是*理想的測量角度。德國byk新的micro-TRI-gloss集20°、60°、85°三種角度于一臺儀器中。作為BYK4446升級版產(chǎn)品,它是一款集合高精確度、使用簡便和多功能于一體的光澤儀,為當今品管部門的標準而設(shè)計。擁有智能的數(shù)據(jù)通訊軟件，是專業(yè)的數(shù)據(jù)管理和有效數(shù)據(jù)分析的理想工具。 BYK4563微型三角度光澤度儀主要應(yīng)用于涂料、塑料薄膜紙張、金屬表面光澤度及涂層厚度測量。角度: 20°、60°、85° 應(yīng)用于各種光澤。測量涂料或金屬的光澤 - 從啞光到鏡面光澤用微型光澤儀，您可以對任何材料進行光澤測量 - 涂料、塑料或高光澤的金屬。測量范圍從啞光產(chǎn)品擴展至鏡面這類反射高達了2000個光澤單位的產(chǎn)品表面，自動校準且無需額外校正。始終保持可靠的結(jié)果 - 符合標準.

主要特點：

•      20、60和85°：光澤從高到低，現(xiàn)有規(guī)定的角度可選
•      對于任何材料：油漆、塑料或甚至鏡面金屬
•      所有角度均在同一位置測量，結(jié)果同時顯示
•      智能自診斷保證讀數(shù)始終準確
•      使用多語言菜單，輕松滾輪操作統(tǒng)計數(shù)據(jù)、合格/不合格和存儲，
•      質(zhì)檢報告和現(xiàn)場檢查的理想之選
•      連續(xù)測量模式檢查大面積的均勻一致性
•      通過過USB或藍牙Bluetooth?無線技術(shù)傳輸數(shù)據(jù)
•      利用包含的easy-link軟件創(chuàng)建專業(yè)的質(zhì)檢報告

新型功能介紹：

一、彩屏顯示

取替以往的簡單黑白屏顯示，符合人體工學(xué)和操作簡單是設(shè)計的要點所在。
微型光澤儀的體積不大也不小– 剛好適合握在手中。
滾輪操作、多語言顯示和彩色顯示屏的簡易導(dǎo)航菜單使光澤測量從未變得如此簡單。
二、自動校準
標準板OK–校準OK精準的讀數(shù)要求有可信賴的校準。
光澤儀和校標底座是一對完美的組合：光澤儀的標準板被安置在校標底座內(nèi)始終受到很好的保護。
特別之處在于：智能的自動診斷功能確保長時間穩(wěn)定的校準，告訴您何時需要校準，甚至還能檢查標準板是否干凈。
三、可測量涂料或金屬的光澤
從啞光到鏡面光澤用微型光澤儀，您可以對涂料、塑料或高光澤的金屬等任何材料進行光澤測量。測量范圍從啞光產(chǎn)品擴展至鏡面這類反射高達2000個光澤單位的產(chǎn)品表面，自動校準且無需額外校正。 

四、智能測量模式滿足不同任務(wù)的需要
不同的工作需要不同的工具。使用儀器上的滾輪能簡單快速地顯示所需功能 - 甚至無需通過電腦：基本測量模式 可為您快速簡單地測量少量樣品的工具。統(tǒng)計測量模式 并不僅僅顯示平均值，而且統(tǒng)計數(shù)據(jù)可用于判斷是否有測量誤差或者用于樣品的均質(zhì)性判定。您可自定義所有想看到的數(shù)據(jù)：平均值，標準偏差，范圍，*大值/*小值...
差值模式 允許您定義一個帶有合格/不合格允差的參考值，所有實測值將與所選擇的參考值進行對比。合格/不合格將通過高分辨率的彩色屏顯示出來 - 理想的生產(chǎn)控制模式。連續(xù)測量模式 是快速檢查大面積樣品的均質(zhì)性有效的方法。您確定好測量間隔后將微型光澤儀在樣品上持續(xù)滑行，即刻得到連續(xù)測量結(jié)果。測量結(jié)束后，屏幕顯示平均值、*大/*小值的范圍。

篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測儀器設(shè)備有：

•     ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀；
•     ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量儀；
•     ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量儀、千分尺、卡尺；
•     ==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測厚儀；
•     ==>>德國艾達米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
•     ==>>美國API  XD系列激光干涉儀；
•     ==>>美國GE無損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀；
•     ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測高儀、千分尺、卡尺；
•     ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標測量機測頭測針、機床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
•     ==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測量系統(tǒng)；
•     ==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測器；
•     ==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
•     ==>>TRIMOS測長儀、測高儀、萬能測長機；
•     ==>>美國ab（Allen- Bradley）羅克韋爾工業(yè)自動化設(shè)備
•     ==>>杭州思看科技三維掃描儀.